Primo analizzatore di spettro VNA a scansione singola al mondo che supporta da 70 kHz a 220 GHz

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Analizzatore di spettro VNA a scansione singola al mondo che supporta da 70 kHz a 220 GHz
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Anritsu Company migliora la sua famiglia di analizzatori di rete vettoriale (VNA – Vector Network Analyzer) VectorStar con una capacità di analisi dello spettro completa per creare la prima soluzione di analizzatore di spettro VNA a scansione singola al mondo che supporta da 70 kHz a 220 GHz.

Con l’opzione dell’analizzatore di spettro installata, VectorStar può condurre misurazioni VNA a connessione singola e basate sullo spettro per creare un ambiente di test più efficiente e accurato per verificare i dispositivi attivi e passivi durante le fasi di progettazione, risoluzione dei problemi o caratterizzazione.

L’opzione dell’analizzatore di spettro è compatibile con tutti i modelli VectorStar in banda base: banda larga e banded.

L’integrazione della capacità dell’analizzatore di spettro/VNA fornisce agli ingegneri un metodo innovativo per trasferire rapidamente una misura VNA complessa all’analizzatore di spettro, senza modificare l’impostazione del test o utilizzare più strumenti.

È particolarmente vantaggioso per le applicazioni che coinvolgono mixer e amplificatori, compresi quelli con uscite multiple o con confronti ingresso-uscita.

Con lo strumento analizzatore di spettro VNA sono possibili analisi simultanee e sequenziali del parametro S e dello spettro.

Le misurazioni nel dominio spettrale di armoniche, spurie, altri prodotti di distorsione e contenuto di frequenza generale possono essere effettuate in modo efficace con la soluzione a strumento singolo.

Consente agli ingegneri di analizzare la risposta simile al VNA e all’analizzatore di spettro di un dispositivo in prova (DUT).

La soluzione dell’analizzatore di spettro VNA è ideale per le misurazioni su wafer, poiché sfrutta i vantaggi intrinseci di VectorStar di effettuare una connessione diretta a un dispositivo su wafer.

Il montaggio e lo smontaggio dei dispositivi su wafer, che possono causare gravi errori di misurazione, vengono eliminati con la soluzione.

La calibrazione della potenza può essere eseguita sulla punta della sonda per una maggiore precisione e ripetibilità.

Gli ingegneri possono anche utilizzare la sorgente VNA come stimolo e qualsiasi porta come ricevitore per misurazioni scalari.

L’utilizzo delle porte di test multiple sul VNA offre un’analisi dello spettro multicanale sincronizzata con i generatori di segnali interni a scansione.

L’analisi dello spettro per banda larga e banded è disponibile anche con Anritsu o altri moduli millimetrici (mmWave).

Sono disponibili due configurazioni nell’opzione dell’analizzatore di spettro.

La modalità VNA standard supporta l’analisi dello spettro basata su punti per misurazioni più rapide, rendendola adatta per l’analisi del segnale noto.

Per l’analisi del segnale sconosciuto, la soluzione può essere configurata con un tradizionale analizzatore di spettro basato su sweep.

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